或者電子顯微鏡使用光學透鏡或電磁場來偏轉或聚焦具有能量的“入射粒子"。這些入射粒子束與(yu) 樣品相互作用後，會(hui) 產(chan) 生各種二次粒子信號。檢測其二次粒子的信號不僅(jin) 可以分析材料的結構和各種特性。顯微鏡利用可見光子作為(wei) 入射粒子，利用光學透鏡偏轉光子的傳(chuan) 播方向或聚焦光束。高倍顯微鏡也是傳(chuan) 統的光學顯微鏡。根據瑞利判據，大數值孔徑的光學透鏡用於(yu) 大功率放大小物體(ti) ，一般接近可見光光學的理論分辨率。除了理論分辨率的限製，透鏡係統的像差也是製約成像分辨率的主要因素。由於(yu) 像差的存在，高倍顯微鏡的分辨率可以無限接近理論分辨率，但無法達到。高倍顯微鏡的透鏡係統要求像差很小，對透鏡係統的透鏡加工精度和裝配精度要求很高。一般來說，隨著精度的提高，製造成本呈指數級增長。電子顯微鏡利用電子作為(wei) 入射粒子，通過電磁場偏轉電子或聚焦電子束。電子光學和可見光光學成像符合高斯成像定律。電子顯微鏡主要分為(wei) 透射電子顯微鏡和掃描電子顯微鏡。透射電子顯微鏡的光路與(yu) 光學顯微鏡相似。根據瑞利判據，成像光的波長成為(wei) 分辨率的基本極限，而能量為(wei) 1Kev的電子束波長約為(wei) 可見光波長的十分之一。一般透射電子顯微鏡使用的電子束能量在幾十kev到幾百Kev之間。目前EM分辨率光學顯微鏡高近萬(wan) 倍，達到0.08nm，掃描電鏡成像與(yu) 光學顯微鏡成像*不同。電磁透鏡隻是縮放電子束光斑的直徑，並不直接參與(yu) 樣品細節的放大和縮小。目前掃描電子顯微鏡的最佳分辨率為(wei) 0.8nm(注意掃描電子顯微鏡和TEM對分辨率的定義(yi) 有些不同)。——以上說了這麽(me) 多，也許是對牛彈琴，光學顯微鏡和電子顯微鏡有著巨大的區別，但凡是有點常識的人都知道這一點。但是市場上很多商家把帶有CCD數字圖像采集係統的光學顯微鏡稱為(wei) 電子顯微鏡，顯然混淆了概念。搜索電子顯微鏡，花錢推廣幾個(ge) 家庭的概念。