表麵粗糙度測量:實用入門技巧
更新時間:2023-02-27 瀏覽次數:844
從(cong) 哪兒(er) 入手呢? 這是一個(ge) 關(guan) 於(yu) 表麵粗糙度測量的有效問題,因為(wei) 有兩(liang) 個(ge) 重要方麵會(hui) 讓人感到困惑。
首先是對測量方法的確定。許多儀(yi) 器都可以進行表麵粗糙度測量,每種儀(yi) 器都有其優(you) 點和缺點,因此很難為(wei) 每個(ge) 樣品選擇適合的儀(yi) 器。
其次令人困惑的方麵是對測量含義(yi) 的理解。從(cong) 采集的數據中可以獲取近百個(ge) 粗糙度參數,因此很難確定哪些參數與(yu) 應用相關(guan) 。
這篇文章對這些挑戰進行了詳細探討,並提供了應對方案,以使粗糙度測量檢測的各個(ge) 方麵變得簡單高效。
進行表麵粗糙度測量
過去,操作人員使用簡單的手持式測量儀(yi) 進行表麵粗糙度測量。數據輸出以手動方式完成,分析工作是一個(ge) 獨立的過程,因此這種測量方式既耗時間,又容易出錯。
如今,許多儀(yi) 器都提供更高效的工作流程和用戶友好型界麵,並配有數據顯示功能、觸摸屏、網絡連通性能和用於(yu) 處理數據的計算機。這些改進大大提高了工作效率。
隨著係統的不斷進步,人們(men) 對準確性的要求也更為(wei) 嚴(yan) 格,準確性變得甚至比工作效率更重要。現在,對表麵光潔度的*高要求更加嚴(yan) 格,通常在6–8 µin之間,因此需要使用高分辨率儀(yi) 器進行測量。
比較各種高分辨率儀(yi) 器:哪種儀(yi) 器更適合進行表麵粗糙度測量?
一種高分辨率儀(yi) 器是原子力顯微鏡,可以實現接近原子高度的分辨率完成粗糙度測量。然而,這種顯微鏡掃描速度慢,掃描區域有限。這種技術不適用於(yu) 測量大型樣品,尤其是曲麵樣品;測量曲麵樣品時,需要掃描較大的區域,才能獲得有意義(yi) 的結果。
您需要考慮諸如此類的重要因素,根據不同的指標仔細選擇檢測儀(yi) 器,包括測量效率、分辨率和掃描範圍。
相比之下,激光掃描共聚焦顯微鏡這類光學儀(yi) 器可為(wei) 相對較大的樣品快速生成具有高分辨率的3D圖像。這種無損檢測技術還可以檢測含有孔隙的粗糙表麵,而使用觸針式輪廓儀(yi) 難以探測這些孔隙。
借助3D圖像,您可以快速定位感興(xing) 趣的區域,並準確了解采集數據的位置。這些優(you) 勢特性在處理小樣品和微觀特征時,大大減少了測量時間,提高了準確性。
使用像奧林巴斯LEXT OLS5100激光掃描共聚焦顯微鏡這類光學係統進行檢測,在借助可追溯的標準樣品完成校準後,可以保證檢測的準確性和可重複性,因此您可以對檢測結果充滿信心。
OLS5100共聚焦顯微鏡是一款功能強大的工具,可幫助您快速掃描表麵特征,進行準確測量。
了解表麵粗糙度測量的含義(yi)
測量完成後,下一步就是弄清楚粗糙度測量的含義(yi) 。有關(guan) 粗糙度的信息通常使用Ra這個(ge) 參數來表示。然而,Ra隻能代表有關(guan) 表麵形貌變化的有限信息。它無法反映有關(guan) 凹凸密度,或規則圖案的周期或形狀的任何信息。
由於(yu) Ra代表的信息有限,工程師不得不定義(yi) 一些額外的粗糙度參數,以量化周期、形狀、銳度、體(ti) 積和主要方向等特性。我們(men) 的LEXT OLS5100激光共聚焦顯微鏡的軟件可以得出近百個(ge) 粗糙度參數,這些參數被方便地歸類為(wei) 不同類別,以適用於(yu) 各種特定類型的應用。
例如,體(ti) 積參數可以量化表麵上凹凸區域和凹坑的體(ti) 積,這是潤滑和磨損研究的關(guan) 鍵信息。峰值密度和平均曲率等特性參數,可表征增材製造中表麵處理的效果和紋理。您必須了解這些參數的含義(yi) ,並確定與(yu) 您的應用*相關(guan) 的參數。
表麵粗糙度測量的實用技巧
像奧林巴斯LEXT共聚焦顯微鏡這樣的光學係統可以應對許多與(yu) 表麵粗糙度測量有關(guan) 的挑戰。
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