靜電式末級透鏡（Apreo C 和 Apreo S）能夠實現鏡筒內(nei) 多種信號的同時探測和高分辨率，而 Apreo S 則結合靜電、浸沒式磁場的複合透鏡以進一步提高低電壓下的分辨率，在 1 kV加速電壓下的分辨率為(wei)  1.0 nm，不需要電子束減速。通過將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實現*的信號過濾功能。擁有透鏡內(nei) 背散射探測器 T1，其位置緊靠樣品，確保在較短的時間內(nei) 獲得大量的采集信號。與(yu) 其他背散射探測器不同，這種快速的探測器在導航時、傾(qing) 斜時或工作距離很短時能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏感樣品時，探測器的*性能尤為(wei) 突出，即使電流低至幾 pA，它也能提供清晰的背散射圖像。Apreo S複合末級透鏡通過能量過濾實現高質量的材料襯度以及絕緣樣品的無電荷成像，進一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價(jia) 值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補充其探測能力，例如定向背散射探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體(ti) 分析探測器(GAD)。所有這些探測器都擁有的軟件控製分割功能，以便根據需求選擇價(jia) 值的樣品信息。

產(chan) 品特點

• 全麵實現納米或亞(ya) 納米分辨性能，從(cong) 納米顆粒，粉末，催化劑和納米器件到塊狀磁性樣品等材料。

• 的背散射電子探測始終可保證良好的材料襯度，即使是以低電壓和小束流並以任何傾(qing) 斜角度對電子束敏感樣品進行 TV速率成像是也不例外。

• 無比靈活的探測器 可將各個(ge) 探測器分割提供的信息相結合，讓用戶能夠獲得至關(guan) 重要的對比或信號強度。

• 各種各樣的荷電緩解策略 ，包括樣品倉(cang) 壓力為(wei)  500 Pa的低真空模式，可實現任何樣品的成像。

• 分析平台提供高電子束電流，而且束斑很小。倉(cang) 室支持三個(ge) EDS 探測器、共麵的 EDS 和 EBSD 以及針對分析而優(you) 化的低真空係統。

• 樣品處理和導航極容易，具有多用途樣品支架和Nav-Cam+。

• 通過高級用戶指導、預設和撤消功能為(wei) 新用戶提供專(zhuan) 家級結果。

參數

電子束

• 電子束電流範圍: 1 pA–400 nA

• 加速電壓: 200 V–30 kV

• 著陸能量範圍: 20 eV–30 keV

• 大水平視場寬:10 mm工作距離下為(wei) 3.0 mm（對應於(yu) 小放大倍率 x29）

• 10mm分析工作距離 1kV 時電子束分辨率: 1nm

倉(cang) 室

• 內(nei) 寬: 340 mm

• 分析工作距離: 10 mm

• 12個(ge) 端口

• EDS 出射角度為(wei) 35°

• 可同時安裝三個(ge) EDS 探測器, 兩(liang) 個(ge) 處於(yu) 180°

• 共麵的 EDS/EBSD 與(yu) 樣品台的傾(qing) 斜軸垂直。

探測器

Apreo 通過可用探測器或探測器的分割部分的任意組合，多可同時探 測四個(ge) 信號：

• Trinity 探測係統 (透鏡內(nei) 和鏡筒內(nei) )

 – T1 分割式透鏡內(nei) 低位探測器

 – T2 透鏡內(nei) 高位探測器

 – T3 鏡筒內(nei) 探測器*

• ETD – Everhart-Thornley SE 探測器

• DBS – 可伸縮分割式透鏡下 BSED*

• 低真空 SE 探測器*

• DBS-GAD – 安裝在透鏡上的氣體(ti) 分析 BSED

• STEM 3+ – 可伸縮分割式探測器（BF、DF、HADF、HAADF)*

• IR-CCD

• Nav-Cam+ ™ –安裝在倉(cang) 室內(nei) 的樣品導航攝像頭

真空係統

• *無油的真空係統

• 1 × 220 l/s TMP

• 1 × PVP-渦旋泵

• 2 × IGP

• 倉(cang) 室真空（高真空）< 6.3 × 10-6 mbar（72 小時抽氣後）

• 抽氣時間：≤ 3.5 分鍾

• 可選的低真空模式

• 倉(cang) 室壓力為(wei)  10 到 500 Pa

• TL-2500實驗室液相色譜流動相加熱裝置
• 實驗室轉矩流變儀
• 粉末雜質（離線）分析儀器HF-260/HPE01108
• 粉末雜質（在線）分析儀HF-230/HPE01107
• 魚眼檢測儀HF-390/HPE01109
• WGE000030細胞培養低速攪拌器 （ 一體式 ）
• TFE000024Summit 傅立葉變換顯微紅外光譜儀
• TFE000019傅立葉變換紅外光譜儀