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產品名稱： Themis透射電鏡產品型號： TFE000054產品時間： 2020-06-29
客服熱線：4008005586
Thermo Scientific™ Themis™ 基於FEI的Titan/TEM平台——2005年推出——Themis TEM家族形成了下一代的世界上大的，商業上可用的材料科學解決方案，與Themis Z和Themis ETEM。這是開始與我們革命性的寬高張力範圍和校正準備平台，加上寬極片間隙提供空間做更多。基於穩定性和靈活性的發展，Themis是高性能的，能夠不斷地發現和探索原子尺度。
產(chan) 品介紹
這些經過驗證的光學與(yu) 新的突破性掃描透射電子顯微鏡（STEM）成像能力和增強的自動化軟件相結合，使所有材料科學家都能獲得終的成像和分析性能。FEI的像差校正Themis Z掃描透射電子顯微鏡（STEM）結合了經過驗證的光學和新的突破性的STEM成像能力和增強的自動化軟件，使終的成像性能掌握在所有材料科學家的手中。與(yu) 我們(men) *的EDX投資組合的西米斯Z提供了所有全麵的原子表征數據在一個(ge) 單一的工具，單一的物鏡配置。ETEM是我們(men) 專(zhuan) 門為(wei) 觀察功能納米材料及其對氣體(ti) 和溫度刺激的時間分辨響應而設計的環境瞬變電磁平台。通過*的差分泵浦物鏡，樣品區成為(wei) 研究催化劑顆粒、納米器件和其他材料的實驗室，使原子尺度能夠觀察表麵和界麵的形貌和相互作用。當需要時，泰坦ETEM可以作為(wei) 原子尺度成像的標S/TEM。
產(chan) 品特點
• 專(zhuan) 為(wei) 觀察功能納米材料及其對氣體(ti) 和溫度刺激的及時響應而設計。
• 試樣區域具有*的微分泵目標透鏡，成為(wei) 研究催化劑顆粒、納米器件和其他材料的實驗室，使原子尺度能夠洞察表麵和界麵的形態和相互作用。
• 化學成分和粘合狀態研究。
• 3d 化學映射。
• s/tem斷層掃描。
• 磁場和電場測量。
• 動態研究。
• 原位氣體(ti) -固體(ti) 相互作用實驗。
參數
型號： Themis 200 |
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| 能量分散 | 點分辨率 | 信息限製 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.8 eV | 90pm | 90pm | 160pm |
探針校正器 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 80pm |
無校正 | 0.8 eV | 240pm | 110pm | 160pm |
| X-FEG |
| 注 ：所有規格都是 200 kV 電壓下的數據 如需其他加速電壓下的規格列表，請聯係銷售代表 | |
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型號：Themis 300 |
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| 能量分散 | 點分辨率 | 信息限製 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 80pm |
單色儀(yi) + X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 200pm | 80pm | 136pm |
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型號：Themis ³ 300 |
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| 能量分散 | 點分辨率 | 信息限製 | STEM分辨率 |
圖像校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 136pm |
探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 200pm | 100pm | 70pm |
單色儀(yi) /X-FEG | 0.2 至 0.3 eV | 80pm | 70pm | 70pm |
圖像 + 探針校正器 | 0.7 至 0.8 eV | 80pm | 80pm | 70pm |
* 取決(jue) 於(yu) 能量過濾器選件 | S-FEG 0.7 eV、 |
| 注 ：所有規格都是 300 kV電壓下的數據 | |
• 可選超穩定、高亮度肖特基場發射電子槍（X-FEG，更多詳情請參見單獨的產(chan) 品數據表）。
• 全新三透鏡聚光器係統可量化指示照明區域會(hui) 聚角和大小，從(cong) 而量化衡量電子劑量和照明條件。
• 靈活的高電壓範圍,Titan Themis 300和Titan Themis³300 ：60至300kV（60、80、120、200、300kV）, Titan Themis 200 ：80至200kV（80、120、200kV）。
• 電子槍單色儀(yi) 可實現高能量分辨率EELS以及更高的空間分辨率，尤其在低 kV HR-S/TEM下。
• STEM和TEM ：Titan Themis 300和Titan3 Themis 300 ：在 STEM和TEM中可達70pm 性能 ；Titan Themis 200 ：在 TEM 中具有90pm 性能，在 STEM中具有80pm性能。
• 使用環境罩時，Titan3 Themis的室內(nei) 聲音和溫度變化要求可以放寬。
• 擁有模塊化鏡筒設計可以為(wei) 鏡筒中的低勵磁偏轉器打造精確的機械疊層係統，大限度降低由電子 噪聲帶來的不穩定性。
• 在模式切換過程中ConstantPower™透鏡設計具有熱穩定性。
• 低磁滯設計可大限度減小光學組件間的串音，實現可再現性。
• Ruska-Rieke S-Twin 對稱物鏡，5.4 mm寬極片間距設計以及可以使用加熱、冷卻和STM/AFM 支架等特殊支 架的“多用途空間”。
• 物鏡背部焦平麵中的物鏡孔隙非常適合開展TEM 暗場應用工作,現場可升級,加裝探針Cs校正器。
• 自動孔隙支持遠程控製操作，而且改變孔隙期間可調用孔隙位置，具有可再現性。
• 無旋轉成像，讓操作更輕鬆，並能清晰呈現圖像與(yu) 衍射平麵之間的方位關(guan) 係。
• 用計算機控製的全新5軸樣品壓電載物台，支持精確調用存儲(chu) 位置，在搜索目標區域時跟蹤訪問過的區域，並具有超穩定、深亞(ya) 埃分辨率以及低樣品漂移。
• 全新壓電載物台可實現精確到20pm的移動，以便將目標觀測特征置於(yu) 視場中央。
• 壓電載物台提供的線性漂移補償(chang) 功能可用於(yu) 減輕熱漂移造成的限製，因為(wei) 在原位加熱或冷卻實驗中熱漂移不可避免。
• 分析用雙傾(qing) 斜樣品架具有±40度的傾(qing) 斜範圍，支持觀測多晶材料中某個(ge) 晶體(ti) 的多個(ge) 晶帶軸。傾(qing) 斜範圍高達±75度的立體(ti) 成像樣品架，可大限度減少三維重構中的圖塊缺失。
• 全新冷阱設計，多可使用一周，從(cong) 而大限度提高正常運行時間。
| 產品料號 | 產品貨號 | *產品名稱 | *產品規格 |
| TFE000054 | TFE000054 | Themis透射電鏡 | Themis 200 |
| TFE000055 | TFE000055 | Themis透射電鏡 | Themis 300 |
| TFE000056 | TFE000056 | Themis透射電鏡 | Themis ³ 300 |
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