顆粒汙染物是任何零部件產(chan) 品的效率、功能和壽命的敵人。

　　供應商、製造商和最終用戶所要求的質量標準不斷提高，因此先進的技術清潔度計劃對於(yu) 消除整個(ge) 生產(chan) 過程中製造部件的汙染物至關(guan) 重要。那麽(me) 我們(men) 在選擇清潔度分析儀(yi) 的時候如何判斷呢？小編今天帶大家了解下掃描電鏡和清潔度顆粒分析的不同要求：

　　掃描電鏡對製樣的要求：粉末樣品一定要粘牢，未粘牢的顆粒需要用洗耳球或壓縮空氣吹掃幹淨。因為(wei) 固定不牢的顆粒在抽真空過程中會(hui) 飄浮起來，汙染光路，嚴(yan) 重者甚至可撞破能譜探測器的探頭，對掃描電鏡造成一定的損壞。

　　清潔度分析對製樣的要求：清潔度分析的樣品為(wei) 濾膜，濾膜樣品不能吹掃。因為(wei) 部分顆粒物靠重力落在濾膜上，吹掃會(hui) 損失這部分顆粒，造成結果的不準確。

　　小貼士：如何解決(jue) 不能吹掃的問題呢？可以配合使用移動式空氣抽吸係統，使用合適的噴嘴通過吸氣原理將顆粒從(cong) 表麵去除並吸走。所提取的顆粒被旋風分離器分離，並收集在實驗瓶或顆粒捕集器中。提取出的顆粒可以與(yu) 過濾器單元一起進行進一步分析。

　　掃描電鏡對於(yu) 樣品具有一定的要求：

　　●粉末、液體(ti) 、薄膜、塊體(ti) 均可測試，粉體(ti) 樣品大概10mg，塊體(ti) 樣品要求長寬≤1cm，厚度≤1cm，；

　　●混凝土，珊瑚沙，氣凝膠等需要抽真空時間非常長的樣品尺寸請盡可能直徑≤5mm，厚度≤5mm；

　　●需要脆斷的樣品，尺寸需要≥2*2cm，厚度＜0.5cm，較厚的樣品建議尺寸準備大些；

　　●要求樣品無毒、無放射性、幹燥無汙染、熱穩定性好、耐電子束轟擊。